高周波ハンドラ装置

高周波ハンドラ装置

トレイから電子デバイスを自動的にテスターへ供給し、テスト結果に基づいて自動的に分類収納する装置です。

特長

  • RFIC向けテストハンドラー装置
  • パワー系高周波FETの多品種少量生産に最適
  • 画像処理による高精度位置決め機能
  • テスターとの通信PHI対応可能

基本仕様

PKGサイズ □3~□30mm
対象トレイ JDECトレイ
同時測定数 1個
測定環境 常温
タクトタイム* 4秒/IC
電源 単相 AC100V±10% 50/60Hz
圧空源 Dry air 0.4Mpa以上
装置寸法(W×D×H) 1,100 × 800 × 1,400mm
装置重量 約300kg

* 弊社基準のプロセス条件の場合